MK26系列隔震控制光學(xué)桌人體工程學(xué)設(shè)計(jì)為超低本征頻率應(yīng)用而設(shè)計(jì)。 本系統(tǒng)采用Minus K專利技術(shù)，有著超低本征頻率、高內(nèi)部結(jié)構(gòu)頻率、以及優(yōu)異垂直和水平隔震效率的結(jié)構(gòu)緊湊的被動(dòng)光學(xué)平臺。 大量實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用需要高分辨率，如：拉曼光譜 Raman spectroscopy, 原子力顯微鏡atomic force microscopy (AFM), 原子力顯微鏡-拉曼集成應(yīng)用AFM-Raman integration, 顯微硬度測試等.