馬赫曾德干涉儀光學教學實驗系統是一種用于教學和研究的光學實驗裝置，基于馬赫曾德干涉原理設計而成，由奧地利物理學家恩斯特·馬赫（Ernst Mach）和德國物理學家路德維希·曾德（Ludwig Zehnder）于19世紀末發明。這一系統在光學實驗中具有重要的應用，并為光學領域的研究和技術發展做出了重要貢獻。馬赫-曾德干涉系統在光學實驗和工程應用中具有廣泛的應用，常用于研究光的波動性質和解決各種光學問題。馬赫-曾德干涉系統在光學實驗和工程應用中具有廣泛的應用，常用于研究光的波動性質和解決各種光學問題。在光學領域的研究中，可以利用干涉條紋來分析光學元件的性能、測量光學薄膜的厚度等。在工程領域，馬赫-曾德干涉系統可以用于制造業中的質量控制和表面檢測，例如檢測平面鏡的表面平整度和透鏡的曲率等。